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激光測量設(shè)備

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諧波法微納材料熱物性測量儀器
傳統(tǒng)測試方法無法滿足新型微納尺度材料熱物性的精確測量要求。諧波法微納材料熱物性測量系統(tǒng)可以實現(xiàn)幾乎所有類型微納材料的熱物性測量，諧波法微納材料熱物性測量儀器

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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昊量光電自主千元級被動隔振平臺訂制
昊量光電自主千元級被動隔振平臺訂制廣泛應(yīng)用于光學(xué)，電子，精密機(jī)械制造，冶金，航天，航空，航海，精密化工和無損檢測等領(lǐng)域，以及其他機(jī)械行業(yè)的精密試驗儀器，設(shè)備振動隔離的關(guān)鍵裝置中。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數(shù)據(jù)通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發(fā)生器，能夠產(chǎn)生高達(dá)250 MHz的正弦波。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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桌面主動隔振臺
桌面主動隔振臺的穩(wěn)定時間非常短，除此之外，它主要的優(yōu)點是很弱的低頻共振，低頻共振是主動減震臺和被動減震臺的主要區(qū)別，在低頻率震動中，被動隔震臺將會放大振動而不是隔離振動。隔震臺的工作不需要壓縮空氣，只需要供應(yīng)電源的插座。在所有六個自由度的方向上， i4系列隔震臺都提供了主動補(bǔ)償，以實現(xiàn)隔震效果。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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桌面主動隔振臺-Herzan/Table Stable
桌面主動隔振臺-Herzan/Table Stable 應(yīng)用：大多數(shù)測量設(shè)備都可以通過消除額外的振動，達(dá)到超高的分辨精度。特別是對于5Hz以下振動頻率敏感的設(shè)備，可以通過使用TS系列主動隔振大大提高效果。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺
TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺：通過運(yùn)用TMC STACIS壓電消振系統(tǒng)，Everstill系統(tǒng)可以消除低至0.7Hz的振動。通過專門針對低頻的消除設(shè)計，Everstill系列在1到10H有很好表現(xiàn)。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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FR-103kHz實時測量自相關(guān)儀
實時測量自相關(guān)儀FR-103kHz基于其創(chuàng)新性的微分延遲配置，特別適用于測量kHz頻率的放大器脈沖，能夠?qū)崿F(xiàn)實時測量。

型號：FR-103kHz 廠商性質(zhì)：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進(jìn)行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復(fù)精度達(dá)到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準(zhǔn)參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質(zhì)：代理商
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ArisTT系列桌面式主動隔震平臺/隔振臺
昊量光電新推出AFM、STM、臺式掃描電鏡、數(shù)字顯微鏡，SEM/TEM等的主動隔振解決方案，采樣*解耦的結(jié)構(gòu)設(shè)計，有效隔離了來自地板的振動和由工具產(chǎn)生的振動，實現(xiàn)六自由度主動隔振，體積小質(zhì)量輕負(fù)載能力強(qiáng)，易于集成到各類工作環(huán)境中，有效改善顯微鏡性能和圖像質(zhì)量。桌面式主動隔震平臺/隔振臺

型號：ArisTT系列廠商性質(zhì)：代理商
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SHR-IR近紅外激光波長計/光譜儀
SHR-IR是一款理想的用來測量脈沖激光器、連續(xù)激光器或二極管波長的波長計/光譜儀，波長范圍600-1800nm，精度±15pm。近紅外激光波長計/光譜儀

型號：SHR-IR 廠商性質(zhì)：代理商
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（190nm-5000nm）高功率寬光譜光束質(zhì)量分析儀 KLT-UBP
直觀易用、與波長無關(guān)的獨立光束分析解決方案，適用于高功率測量以及寬光譜測量。高功率寬光譜光束質(zhì)量分析儀 KLT-UBP （190nm-5000nm）

型號：（190nm-5000nm）廠商性質(zhì)：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質(zhì)：代理商
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