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精密定位系統/平移臺

2023
6.21

【應用案例】Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗

【應用案例】Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗應用案例Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗介紹在華盛頓大學,研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術研究開發化學成像工具，用于早期癌癥檢測和了解神經退行性疾病進展。實驗裝置通常包括多個復雜的高性能儀器,用于實時雙色SRS成像或兩個相距較遠的拉曼躍遷的同步成像。現在，他們正在使用Moku:Pro鎖相放大器和多儀器并行模式，僅通過Moku:Pro一臺緊湊的多通道設備進行多種實驗并捕捉低強度的SRS信號...
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2023
6.12

Moku云編譯 + ChatGPT: 客戶定制化需求的天花板

Moku云編譯+ChatGPT:客戶定制化需求的天花板Moku：pro不僅能夠解決大多數電學信號的測試和ji具難度的測量實驗，而且能夠支持jian端實驗，并能在設計具有du特要求的先jin產品時，具有優xiu的表現。科學家和工程師們經常會在軟件中進行方便的離線模擬或數據處理，此時他們會通過用戶可編程FPGA找到更高性能的解決方案。然而，盡管它們很有用，但這些解決方案有時候也會很復雜且難以實現。MokuCloudCompile(MCC)云編譯為熟悉FPGA編程的用戶xiao除了...
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2023
6.8

透射光學材料的介紹

光學成像要通過光學零件的折射和反射來實現，決定一種材料能否用來制造光學零件，要看它對要求成像的波段是否透明，或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對于透射光學零件來說，透射材料的特性除了透過率之外，還有它對各種特征譜線的折射率，其中以D或d線的折射率nD或nd以及F線和C線的折射率差nF-nc作為其主要的光學性能參數，這是因為F線和C線接近人眼光譜靈敏極限的兩端，而D線或d線在其中間，接近人眼靈敏的波長，nd稱為平均折射率，nF-nc稱為平均色散。此外，將?d=(nd-1...
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2023
5.29

鎖模激光器的原理

在一個簡單的激光器中，每一個模式都獨立地振蕩，彼此之間沒有固定的關系，本質上就像一組獨立的激光器，它們都以略微不同的頻率發光。每種模式中光波的各個相位都不是固定的，可能會因激光器材料的熱變化等因素而隨機變化。在只有少數振蕩模式的激光器中，模式之間的干擾會導致激光輸出中的拍頻效應，導致強度波動；在具有數千個模式的激光器中，這些干擾效應趨于平均到接近恒定的輸出強度。如果不是獨立振蕩，而是每個模式運行時與其他模式之間保持固定的相位差，則激光輸出的行為會截然不同。激光模式將周期性地相...
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2023
5.22

點衍射干涉儀的精度檢驗方法

點衍射干涉儀的精度檢驗方法點衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學測量設備。它利用激光束小孔后產生接近理想的點光源對物體表面進行測量，可以實現對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于超高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構成。1.2測試環境溫度：21℃&plus...
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2023
5.22

非接觸式金屬膜厚測量儀的原理及應用

非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學干涉或者電磁感應等技術。相比于傳統的劃痕法和化學分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優點，廣泛應用于材料科學、電子工程、光學制造等領域。原理是利用光學干涉原理或電磁感應原理來測定薄膜的厚度。其中，光學干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實時監測信號變化來計算出薄膜的厚度。...
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2023
4.27

Up to 98%光利用率—鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!

Upto98%光利用率——鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調制器（SLM）可以將數字化數據轉換為適合各種應用的相干光學信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學、湍流模擬、光計算、光遺傳學和散射介質成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數字電路相結合，MeadowlarkOptics現在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
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2023
4.17

膜厚測量儀的應用場景

膜厚測量儀主要采用了X射線熒光光譜技術（XRF技術），通過發射出的X射線來對材料內部的分子結構進行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過材料后，與材料中的元素反應并產生熒光信號，該熒光信號的波長和強度反映了樣品中的元素種類和含量。通過這種方式來測量薄膜的厚度以及成分。應用場景：1、半導體加工在半導體制造業中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來進行檢測。膜厚測量儀能夠精確測量超薄膜，對后續工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業中，需...
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